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JIS X 6305-3：2012
識別カードの試験方法―第3部：外部端子付きICカード及び接続装置
2012改正●2002制定
| 番号 | 用語 | 定義 | 対応英語 |
|---|---|---|---|
| 3.1 | ICカード | JIS X 6320規格群で規定する外部端子付き集積回路カード。 | card |
| 3.2 | 試験対象品●DUT | この規格の適用範囲内で試験されるICカード又はIFD。 | DUT●device under test |
| 3.3 | ETU因子 | JIS X 6320-3の6.3.1及び7.1に記載されているように，プロトコル及びパラメタ選択(protocol and parameter selection，PPS)によって，基本値(negotiated values)が取り決められ(to be negotiated)，etuを決定しているパラメタ群。 | etu-factor |
| 3.4 | IFD | JIS X 6320-3で規定する外部端子付きICカードに接続する接続装置。 | interface device |
| 3.5 | 通常使用 | カード技術に適した実装プロセスをもつ識別力ード(JIS X 6301の4.参照)及び装置間で使用される個人情報の記録媒体としての使用。 | normal use |
| 3.6 | 試験方法 | 規格を満たしていることを確認するために，識別力ード及び接続する接続装置の特性を試験する方法。 | test method |
| 3.7 | 試験シナリオ | この規格で規定する試験方法で使用される代表的なプロトコル及びアプリケーション固有通信。 | test scenario |
| 3.8 | 代表的プロトコル及びアプリケーション固有通信 | DUTと試験装置との間の通信であって，DUTに実装されたプロトコル及びアプリケーションに基づき，かつ，通常使用に対応した通信。 | typical protocol and application specific communication |
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