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JIS X 6305-5：2003
識別カードの試験方法―第5部：光メモリカード
2003制定
| 番号 | 用語 | 定義 | 対応英語 |
|---|---|---|---|
| 3.1 | 試験方法 | 規格に適合していることを確認するために，カードの特性を試験する方法。 | test method |
| 3.2 | 機能残存 |
破壊を招く危険性がある幾つかの試験に対して．試験後に残存すべき機能。 a) 磁気ストライプでは，試験の前後に計測される信号振幅の関係が基本規格に従っている。 b) ICでは，リセット応答が基本規格に従っている。備考 この規定では，ICカードの完全な試験方法を網羅していない。この試験方法は，最低限の機能確認をするにすぎない。仕様に応じて機能項目を加えて適用してもよい。 c) 外部端子では，電気抵抗及びインピーダンスが基本規格に従っている。 d) 光メモリでは，光学特性が基本規格に従っている。 |
testably functional |
| 3.3 | 通常の使用 | カード技術及び個人情報の記憶媒体に適した，カードリーダライタ側の処理を含むIDカード[JIS X 6301の4．(定義)参照]としての使用。 | normal use |
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