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JIS X 6305-7：2010
識別カードの試験方法―第7部：非接触(外部端子なし)ICカード―近傍型
2010改正●2001制定
| 番号 | 用語 | 定義 | 対応英語 |
|---|---|---|---|
| 3.1.1 | 基本規格 | 適合性を検証するのに，その試験方法を用いる規格。 | base standard |
| 3.1.2 | 機能残存 |
例えば，許容値を超えて破壊させるような影響を与えても，カードの中の集積回路が，JIS X 6323-3に規定する応答信号(1)を発生し続けていることを検出して，まだ正常に動作していること。注記 ほかの方法で確認できる場合，その規定に基づいて機能確認する。 注(1)この規定では，ICカードの完全な試験方法を網羅していない。この試験方法は，最小限の機能確認をするにすぎない。一般に適用されないが，応用の環境において，応用仕様の機能項目を加えて適用してもよい。 |
operate as intended |
| 3.1.3 | 試験方法 | 規格を満たしていることを確認するために，識別力ードの特性を試験する方法。 | test method |
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